Dändliker, René, Prof. Dr.
Corcelles NE
Marcas, designs e patents
Verfahren und Vorrichtung zur Zwei-Wellenlängen-Interferometrie mit optischem Heterodynverfahren, und Anwendung zur Positionsbestimmung oder Distanzmessung
Patent svizzer · CH678108 · Inventur
Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Verschiebungen bei der Einstellung und Steuerung von Werkzeugmaschinen
Patent svizzer · CH669846 · Inventur
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Verfahren zur Strommessung an einem elektrischen Leiter durch den Faraday-Effekt
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