Verordnung über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen
(Topographienverordnung, ToV)

Der Vollzug der Verwaltungsaufgaben, die sich aus dem ToG ergeben, und der Vollzug dieser Verordnung sind Sache des Instituts für Geistiges Eigentum (Institut).⁴

Ausgenommen sind der Artikel 12 ToG sowie die Artikel 16–19 dieser Verordnung, deren Vollzug der Eidgenössischen Zollverwaltung obliegt.

Eingaben an das Institut5 müssen in einer schweizerischen Amtssprache abgefasst sein.

Von Beweisurkunden, die nicht in einer Amtssprache abgefasst sind, kann das Institut unter Ansetzung einer Frist eine Übersetzung sowie eine Bescheinigung ihrer Richtigkeit verlangen; werden die verlangten Unterlagen nicht beigebracht, gelten die Beweisurkunden als nicht eingereicht.

Ausdruck gemäss Ziff. I der V vom²⁵. Okt. 1995, in Kraft seit¹. Jan. 1996 (AS 1995 5156). Diese Änd. ist im ganzen Erlass berücksichtigt.

Eingaben müssen unterzeichnet sein.

Fehlt auf einer Eingabe die rechtsgültige Unterschrift, so wird das ursprüngliche Einreichungsdatum anerkannt, wenn eine inhaltlich identische und unterzeichnete Eingabe innerhalb eines Monats nach Aufforderung durch das Institut nachgereicht wird.

Die Anmeldung zum Registereintrag muss nicht unterzeichnet sein. Das Institut kann weitere Dokumente bestimmen, für welche die Unterschrift nicht nötig ist.

Das Institut kann die elektronische Kommunikation zulassen.

Es legt die technischen Einzelheiten fest und veröffentlicht sie in geeigneter Weise.

Melden mehrere Personen eine Topographie an, so kann das Institut sie auffordern, eine von ihnen oder eine Drittperson als gemeinsame Vertreterin zu bezeichnen.

Solange trotz Aufforderung des Institutes keine Vertreterin bezeichnet ist, gilt die in der Anmeldung zuerst genannte Person als Vertreterin.

Folgende Unterlagen sind zur Identifizierung und Veranschaulichung der Topographie zugelassen:

1. Zeichnungen oder Fotografien von Darstellungen (Layouts) zur Herstellung des Halbleitererzeugnisses;

2. Zeichnungen oder Fotografien von Masken oder Maskenteilen zur Herstellung des Halbleitererzeugnisses;

[AS 1995 5174, 1997 773]. Heute: die Gebührenordnung des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum vom²⁸. April 1997 (SR 232.148).

Zusätzlich können Datenträger, auf denen in digitalisierter Form Darstellungen einzelner Schichten von Topographien festgehalten sind, oder Computer-Ausdrucke davon sowie die Halbleitererzeugnisse selbst hinterlegt werden.

Die Unterlagen sind im Format DIN A⁴ (21×29,7 cm) oder auf dieses Format gefaltet einzureichen. Grossflächige Zeichnungen, Pläne oder Fotografien, die nicht gefaltet werden können, müssen in Zeichenrollen eingereicht werden, die höchstens 1,5 m lang und 15 cm dick sein dürfen.

Soweit das Institut die Unterlagen zur Identifizierung elektronisch entgegennimmt (Art. 2b), kann es von diesem Artikel abweichende Anforderungen festlegen; es veröffentlicht diese in geeigneter Weise.¹⁰

Bei unvollständiger oder mangelhafter Anmeldung räumt das Institut dem Anmelder oder der Anmelderin eine Frist zur Vervollständigung der Anmeldung ein.

Ist der Mangel nach Ablauf der Frist nicht behoben, tritt das Institut auf die Anmeldung nicht ein.

Zu den Akten gegebene Beweisurkunden, die ein Fabrikations- oder Geschäftsgeheimnis offenbaren, werden auf Antrag ausgesondert.

Unterlagen, die nach Artikel 5 zur Identifizierung dienen, dürfen nicht in ihrer Gesamtheit ausgesondert werden.

Auf ausgesonderte Urkunden wird im Aktenheft hingewiesen.

Über die Einsicht in ausgesonderte Urkunden entscheidet das Institut nach Anhörung der an der Topographie Berechtigten, die im Register eingetragen sind.

Das Institut veröffentlicht die im Register eingetragenen Angaben.

Es bestimmt das Publikationsorgan.

Auf Antrag und gegen Kostenersatz erstellt es Papierkopien von ausschliesslich elektronisch veröffentlichten Daten.¹³

…14

Änderungen, die auf einem vollstreckbaren Gerichtsurteil oder auf einer Vollstreckungsmassnahme beruhen, sowie Verfügungsbeschränkungen von Gerichten und Vollstreckungsbehörden werden gegen Vorlage einer Kopie des Urteils mit Bescheinigung der Rechtskraft eingetragen.¹⁶

Änderungen werden im Aktenheft vorgemerkt, im Register eingetragen und vom Institut bescheinigt.

…17

Fehlerhafte Eintragungen werden auf Antrag der an der Topographie Berechtigten unverzüglich berichtigt.

Beruht der Fehler auf einem Versehen des Institutes, so erfolgt die Berichtigung von Amtes wegen.

Das Institut bewahrt die Akten sowie die hinterlegten Datenträger und Halbleitererzeugnisse nach der gültigen Anmeldung während 20 Jahren auf.

Werden die Datenträger und Halbleitererzeugnisse nach Ablauf der Aufbewahrungsfrist nicht zurückverlangt, kann sie das Institut auch ohne Antrag zurückschicken. Kann die Adresse der Berechtigten nicht ausfindig gemacht werden, so werden die hinterlegten Gegenstände zusammen mit den Akten vernichtet.

Die Hersteller und Herstellerinnen oder die klageberechtigten Lizenznehmer und Lizenznehmerinnen (Antragsteller und Antragstellerinnen) müssen den Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion stellen.²⁰

Der Antrag gilt während zwei Jahren, wenn er nicht für eine kürzere Geltungsdauer gestellt wird. Er kann erneuert werden.

Behält die Zollstelle Halbleitererzeugnisse zurück, so verwahrt sie sie gegen Gebühr selbst oder gibt sie auf Kosten des Antragstellers oder der Antragstellerin einer Drittperson in Verwahrung.

Sie teilt dem Antragsteller oder der Antragstellerin Name und Adresse der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers, eine genaue Beschreibung, die Menge sowie den Absender im In- oder Ausland der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse mit.

Steht schon vor Ablauf der Frist nach Artikel 77 Absatz 2 beziehungsweise 2bis des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 1992²² fest, dass der Antragsteller oder die Antragstellerin keine vorsorgliche Massnahme erwirken kann, so gibt die Zollstelle die Halbleitererzeugnisse unverzüglich frei.

Der Antragsteller oder die Antragstellerin kann die Übergabe oder Zusendung von Proben oder Mustern zur Prüfung oder die Besichtigung der Halbleitererzeugnisse beantragen. Anstelle von Proben oder Mustern kann die Zollverwaltung dem Antragsteller oder der Antragstellerin auch Fotografien der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse übergeben, wenn diese eine Prüfung durch den Antragsteller oder die Antragstellerin ermöglichen.

Der Antrag kann zusammen mit dem Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion oder während des Zurückbehaltens der Halbleitererzeugnisse direkt bei der Zollstelle gestellt werden, welche die Halbleitererzeugnisse zurückbehält.

Die Zollverwaltung weist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer der Halbleitererzeugnisse auf die Möglichkeit hin, einen begründeten Antrag auf Verweigerung der Entnahme von Proben oder Mustern zu stellen. Sie setzt ihr oder ihm für die Stellung des Antrags eine angemessene Frist.

Gestattetdie Zollverwaltung dem Antragsteller oder der Antragstellerin die Besichtigung der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse, so nimmt sie bei der Festlegung des Zeitpunkts auf die Interessen des Antragstellers oder der Antragstel- lerin und der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers angemessen Rücksicht.

Die Zollverwaltung bewahrt die entnommenen Proben oder Muster während eines Jahres ab der Benachrichtigung der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers nach Artikel 77 Absatz 1 des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 1992²⁶ auf. Nach Ablauf dieser Frist fordert sie die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer auf, die Proben oder Muster in ihren beziehungsweise seinen Besitz zu nehmen oder die Kosten der weiteren Aufbewahrung zu tragen. Ist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise der Anmelder, Besitzer oder Eigentümer dazu nicht bereit oder lässt sie beziehungsweise er sich innerhalb von 30 Tagen nicht vernehmen, so vernichtet die Zollverwaltung die Proben oder Muster.

Die Zollverwaltung kann anstelle der Entnahme von Proben oder Mustern Fotografien der vernichteten Halbleitererzeugnisse erstellen, soweit damit der Zweck der Sicherung von Beweismitteln gewährleistet ist.