SCHÜNGEL, Edmund
Buchs
Marcas, designs e patents
MESSVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM MESSEN VON PARAMETERN EINES PIEZOELEKTRISCHEN KRISTALLS,WORAUF EINE MATERIALDÜNNSCHICHT AUFGEBRACHT WIRD, SOWIE DÜNNSCHICHTAUFBRINGUNGSSYSTEME MITTELS EINER SOLCHEN VORRICHTUNG UND EIN VERFAHREN ZUM KONTROLLIEREN SOLCHER SYSTEME
Patent europeic · EP4256320 · Inventur
VERFAHREN ZUR BEHANDLUNG EINES SUBSTRATS UND VAKUUMABSCHEIDUNGSVORRICHTUNG
Patent europeic · EP3794157 · Inventur