Nova Measuring Instruments, Inc.
Santa Clara, CA
Patents
VERFAHREN UND SYSTEM ZUR ÜBERWACHUNG EINES ABSCHEIDUNGSPROZESSES
EP3935371
MASSENSPEKTROMETERDETEKTOR SOWIE SYSTEM DAMIT
EP3622553
SYSTEM FÜR HALBLEITERMETROLOGIE UND OBERFLÄCHENANALYSE MITTELS SEKUNDÄRIONENMASSENSPEKTROMETRIE
EP3257068
VORWÄRTSSCHUB VON MEHRSCHICHT- UND MULTIPROZESSINFORMATIONEN MIT XPS- UND XRF-TECHNOLOGIEN
EP3161462
BESTIMMUNG DER DICKE UND ZUSAMMENSETZUNG VON SILICIUM-GERMANIUM MIT KOMBINIERTER XPS- UND XRF-TECHNOLOGIE
EP3134712
VERFAHREN UND SYSTEME ZUR MESSUNG PERIODISCHER STRUKTUREN MIT MEHRFACHWINKEL-RÖNTGENREFLEXIONSSCATTEROMETRIE
EP3097383
VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG VON PLÄTTCHEN FÜR EINEN MONOCHROMATOR FÜR RÖNTGEN-PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE
EP3036533
Holder of 7 patents, 3 in force.
From Swissreg, the register of the Federal Institute of Intellectual Property: Swiss patents and European patents with effect in Switzerland. A patent is listed here when its holder’s name is this entity’s.