Bruker Nano, Inc.
Santa Barbara, CA
Patente
SYSTEM MIT NIEDRIGER DRIFT FÜR EIN MESSINSTRUMENT
EP3887833
SCHNELLE RASTERKRAFTMIKROSKOPIE VON GROSSEN FLÄCHEN
EP3833988
VERFAHREN ZUR SERIENHERSTELLUNG VON SONDEN MIT GROSSEM RADIUS
EP3775935
HEIZMANTEL FÜR EINE SONDE, SYSTEM ZUR MECHANISCHEN PRÜFUNG UND VERFAHREN ZUR PRÜFUNG DER MECHANISCHEN EIGENSCHAFTEN EINES MATERIALS
EP3710807
AUF RASTERKRAFTMIKROSKOP BASIERENDE OBERFLÄCHENEMPFINDLICHE INFRAROTSPEKTROSKOPIE
EP3649475
VERFAHREN FÜR RASTERKRAFTMIKROSKOPIE BASIERTE INFRAROT SPEKTROSKOPIE MIT ERHÖHTEN AUFLÖSUNG UND EMPFINDLICHKEIT
EP3532853
INFRAROT-CHARAKTERISIERUNG EINER PROBE UNTER VERWENDUNG EINES OSZILLATIONSMODUS
EP3500841
RÜCKSTANDSENTFERNUNG AUS STRUKTUREN MIT HOHEM ASPEKTVERHÄLTNIS
EP3748431
MESSUNG SEHR NIEDRIGER DREHMOMENTWERTE
EP3308119
MIKROGEFERTIGTER KAMMANTRIEB ZUR QUANTITATIVEN NANOVERZAHNUNG
EP2926111
Weitere Marken (40)
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG ELEKTRISCHER EIGENSCHAFTEN UNTER VERWENDUNG EINES AFM IM SPITZENKRAFT-ERFASSUNGSMODUS
EP2864798
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR MESSUNG ELEKTRISCHER EIGENSCHAFTEN UNTER VERWENDUNG EINES AFM IM SPITZENKRAFTERFASSUNGSMODUS
EP3293527
HOCHTEMPERATURHEIZSYSTEM
EP2786115
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR EINSTELLUNG EINES RASTERSONDENMIKROSKOPS
EP2776851
TESTANORDNUNG MIT EINER PLATTFORM MIT MEHREREN FREIHEITSGRADEN
EP2761357
NANOMECHANISCHES TESTSYSTEM
EP2673901
2-D-MEMS-TRIBOMETER MIT KAMMANTRIEBEN
EP2564180
MIKRO-ELEKTROMECHANISCHER ERHITZER
EP2504671
HEIZSTAND IM MIKRONMASSSTAB
EP3553494
MICRO/NANO-MECHANISCHES TESTSYSTEM MIT ZUGTESTHALTER MIT GEGENTAKTTRANSFORMATOR
EP2349913
Micro/Nanomechanisches Testsystem mit Zugtesthalter mit Gegentakttransformator
EP2790004
MIKROMECHANISCHER KAMMANTRIEB ZUR QUANTITATIVEN NANOINDENTIERUNG
EP2310830
DIGITALE DÄMPFUNGSKONTROLLE NANOMECHANISCHER TESTGERÄTE
EP2310831
OBERFLÄCHENBEWERTUNG MITTELS MESSUNG DER ORTHOGONALEN KRAFT
EP2291635
FREMDKÖRPERENTFERNUNG IN STRUKTUREN MIT HOHEM SEITENVERHÄLTNIS
EP2198451
CHEMISCH-MECHANISCHES POLIERSYSTEM UND BETRIEBSVERFAHREN DAFÜR
EP3946808
NANOSKALIGE DYNAMISCHE MECHANISCHE ANALYSE ÜBER RASTERKRAFTMIKROSKOPIE (AFM-NDMA)
EP3788386
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR CHEMISCHEN UND OPTISCHEN BILDGEBUNG MIT EINER BREITBANDQUELLE
EP3293525
RÜCKSTANDSENTFERNUNG AUS STRUKTUREN MIT HOHEM ASPEKTVERHÄLTNIS
EP3272432
RÜCKSTANDSENTFERNUNG AUS STRUKTUREN MIT HOHEM ASPEKTVERHÄLTNIS
EP3251760
RÜCKSTANDSENTFERNUNG AUS STRUKTUREN MIT HOHEM ASPEKTVERHÄLTNIS
EP3408707
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR PELLIKELENTFERNUNG
EP3467586
PROBENGEFÄSSHALTERUNG FÜR EIN INVERSES MIKROSKOP MIT EINEM RASTERSONDENMIKROSKOP
EP3314271
UNIVERSELLER MECHANISCHER TESTER ZUR MESSUNG DER REIBUNG UND DER VERSCHLEISSEIGENSCHAFTEN VON MATERIALIEN
EP3129763
FELDABBILDUNG UND FOKUSPUNKTSVERFOLGUNG FÜR S-SNOM
EP3108262
KRAFTMESSUNG MIT ECHTZEIT-GRUNDLINIENBESTIMMUNG
EP3077831
CHEMISCHE NANOIDENTIFIZIERUNG EINER PROBE MITTELS NORMALISIERTER NAHFELDSPEKTROSKOPIE
EP2972418
CHEMISCHE NANOIDENTIFIZIERUNG EINER PROBE MITTELS NORMALISIERTER NAHFELDSPEKTROSKOPIE
EP3467518
MINIATURISIERTE FREITRAGENDE SONDE ZUR RASTERSONDENMIKROSKOPIE UND HERSTELLUNG DAVON
EP2898332
HOCHTEMPERATURHEIZSYSTEM
EP2786116
Kompakter Scanner für Rastersondenmikroskop
EP2702416
VERFAHREN ZUR VERWENDUNG EINES SPITZENKRAFT-ANZAPFMODUS ZUR MESSUNG DER PHYSIKALISCHEN EIGENSCHAFTEN EINER PROBE
EP2646838
Rastersondenmikroskop mit geringer Temperaturabweichung und Verfahren zur Minimisierung der Temperaturabweichung in einem Rasterkraftmikroskop
EP2548033
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BEDIENUNG EINES RASTERSONDENMIKROSKOPS
EP2507642
ERFASSUNGSSONDENMIKROSKOP MIT TRAGESTUFE MIT EINER KINEMATISCHEN FLEXURANORDNUNG
EP2494367
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BEDIENUNG EINES RASTERSONDENMIKROSKOPS
EP2359148
VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINER SONDENVORRICHTUNG FÜR EIN MESSINSTRUMENT UND AUF DIESE WEISE HERGESTELLTE SONDENVORRICHTUNG
EP2235723
FREMDKÖRPERENTFERNUNG AUS EINER FURCHE EINER FOTOLITHOGRAFIE MASKE
EP3147937
ENTFERNUNG VON ABLAGERUNGEN AUS EINEM GRABEN, DER AUF EINER PHOTOLITHOGRAPHISCHEN MASKE GEBILDET WURDE
EP3726566
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR AUTOMATISCHEN RASTERSONDEN-BILDGEBUNG
EP2195635
Inhaberin von 59 Patenten, 25 in Kraft.
Aus Swissreg, dem Register des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum: Schweizer Patente und europäische Patente mit Wirkung in der Schweiz. Ein Patent steht hier, wenn der Name seiner Inhaberin der Name dieser Rechtseinheit ist.