Nova Measuring Instruments, Inc.
Santa Clara, CA
Patente
VERFAHREN UND SYSTEM ZUR ÜBERWACHUNG EINES ABSCHEIDUNGSPROZESSES
EP3935371
SYSTEM FÜR HALBLEITERMETROLOGIE UND OBERFLÄCHENANALYSE MITTELS SEKUNDÄRIONENMASSENSPEKTROMETRIE
EP3257068
VORWÄRTSSCHUB VON MEHRSCHICHT- UND MULTIPROZESSINFORMATIONEN MIT XPS- UND XRF-TECHNOLOGIEN
EP3161462
BESTIMMUNG DER DICKE UND ZUSAMMENSETZUNG VON SILICIUM-GERMANIUM MIT KOMBINIERTER XPS- UND XRF-TECHNOLOGIE
EP3134712
VERFAHREN UND SYSTEME ZUR MESSUNG PERIODISCHER STRUKTUREN MIT MEHRFACHWINKEL-RÖNTGENREFLEXIONSSCATTEROMETRIE
EP3097383
VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG VON PLÄTTCHEN FÜR EINEN MONOCHROMATOR FÜR RÖNTGEN-PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE
EP3036533
Inhaberin von 6 Patenten, 2 in Kraft.
Aus Swissreg, dem Register des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum: Schweizer Patente und europäische Patente mit Wirkung in der Schweiz. Ein Patent steht hier, wenn der Name seiner Inhaberin der Name dieser Rechtseinheit ist.