Unity Semiconductor
38330 Montbonnot-Saint-Martin
Patente
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR ERKENNUNG KRISTALLINER DEFEKTE IN EINEM SUBSTRAT DURCH DUNKELFELD UND PHOTOLUMINESZENZ
EP4575468
INSPEKTIONSVERFAHREN ZUR DETEKTION EINER DEFEKTEN BONDSCHNITTSTELLE IN EINEM PROBENSUBSTRAT UND MESSSYSTEM ZUR DURCHFÜHRUNG DES VERFAHRENS
EP4382895
PROCEDE ET SYSTEME POUR MESURER UNE SURFACE D'UN OBJET COMPRENANT DES STRUCTURES DIFFERENTES PAR INTERFEROMETRIE A FAIBLE COHERENCE
EP3887755
PROCEDE ET SYSTEME POUR MESURER UNE SURFACE D'UN OBJET COMPRENANT DES STRUCTURES DIFFERENTES PAR INTERFEROMETRIE A FAIBLE COHERENCE
EP4220072
DISPOSITIF D'INSPECTION OPTIQUE EN CHAMP SOMBRE
EP3864397
SYSTEM ZUR OPTISCHEN INSPEKTION EINES SUBSTRATS UNTER VERWENDUNG DERSELBEN ODER VERSCHIEDENER WELLENLÄNGEN
EP4332557
VERFAHREN UND SYSTEM ZUR UNTERSCHEIDUNG VON AUF EINER VORDERSEITE VORHANDENEN DEFEKTEN VON AUF EINER RÜCKSEITE EINES TRANSPARENTEN SUBSTRATS VORHANDENEN DEFEKTEN
EP4202423
PROCÉDÉ ET DISPOSITIF D'INSPECTION D'UNE SURFACE D'UN OBJET COMPORTANT DES MATÉRIAUX DISSIMILAIRES
EP3749919
PROCEDE ET SYSTEME D'INSPECTION OPTIQUE D'UN SUBSTRAT
EP3735578
MEHRKANALIGER KONFOKALER SENSOR UND ZUGEHÖRIGES VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINER PROBE
EP3431918
Weitere Marken (13)
DISPOSITIF DE POSITIONNEMENT D'UNE PLAQUETTE DE CIRCUIT INTEGRE, ET APPAREIL D'INSPECTION D'UNE PLAQUETTE DE CIRCUIT INTEGRE COMPRENANT UN TEL DISPOSITIF DE POSITIONNEMENT
EP3472633
PROCEDE ET SYSTEME D'INSPECTION PAR EFFET DOPPLER LASER DE PLAQUETTES POUR LA MICROELECTRONIQUE OU L'OPTIQUE
EP3436807
VERFAHREN ZUR 2D/3D-INSPEKTION EINES OBJEKTS WIE ETWA EINES WAFERS
EP3228978
PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'INSPECTION DE PLAQUETTES POUR L'ÉLECTRONIQUE, L'OPTIQUE OU L'OPTOÉLECTRONIQUE
EP3201609
PROCÉDÉ ET SYSTÈME D'INSPECTION DE PLAQUETTES TRANSPARENTES POUR L'ÉLECTRONIQUE, L'OPTIQUE OU L'OPTOÉLECTRONIQUE
EP3201610
DISPOSITIF ET PROCEDE DE PROFILOMETRIE DE SURFACE POUR LE CONTROLE DE WAFERS EN COURS DE PROCESS
EP3198220
DISPOSITIF ET PROCEDE DE POSITIONNEMENT DE MASQUE DE PHOTOLITHOGRAPHIE PAR METHODE OPTIQUE SANS CONTACT
EP3077873
PROCEDE ET DISPOSITIF POUR CONTROLER LA REVELATION DE STRUCTURES ENTERREES SUR DES OBJETS TELS QUE DES WAFERS
EP2888552
DISPOSITIF ET PROCEDE POUR FAIRE DES MESURES DIMENSIONNELLES SUR DES OBJETS MULTI-COUCHES TELS QUE DES WAFERS
EP2888551
DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE PLAQUETTES SEMI-CONDUCTRICES
EP2401574
DISPOSITIF MICROSCOPE CONFOCAL CHROMATIQUE
EP3211367
DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D' INSPECTION DE PLAQUETTES SEMI-CONDUCTRICES
EP2286441
VERFAHREN ZUM NACHWEIS VON OBERFLÄCHENDEFEKTEN AUF EINEM SUBSTRAT UND VORRICHTUNG UNTER VERWENDUNG DES VERFAHRENS
EP2140252
Inhaberin von 23 Patenten, 5 in Kraft.
Aus Swissreg, dem Register des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum: Schweizer Patente und europäische Patente mit Wirkung in der Schweiz. Ein Patent steht hier, wenn der Name seiner Inhaberin der Name dieser Rechtseinheit ist.