FEI COMPANY
Hillsboro, OR 97124-5830
Patents
HYBRIDE HINTERGRUNDEXTRAKTION IN DER ELEKTRONENHOLOGRAPHIE
EP4632497
SYSTEME UND VERFAHREN ZUR ANALYSE EINER PROBE MIT GELADENEN TEILCHENSTRAHLEN UND AKTIVEN PIXELSTEUERUNGSSENSOREN
EP4575475
PARTIKELINDUZIERTE RÖNTGENSTRAHLUNG MIT LEICHT- UND SCHWERPARTIKELSTRAHLEN
EP4567413
VERFAHREN UND SYSTEM ZUR AUSRICHTUNG EINER PROBE ZUR INSPEKTION MIT LADUNGSTRÄGERTEILCHENMIKROSKOPIE
EP4530614
AUTOMATISIERTE BEREICHSAUSWAHL FÜR AUTOMATISCHE ABTASTUNG
EP4528640
TEM-GITTER MIT FLÜSSIGKEITSVERTEILUNGSSPUREN
EP4517291
LADUNGSTRÄGERTEILCHENSENSOREN MIT MATERIALIEN MIT BREITER BANDLÜCKE
EP4386811
STEUERUNG EINES ELEKTRONENTOMOGRAPHIETISCHES
EP4563990
TENSORALE VORLAGENANPASSUNG
EP4530998
SYSTEME UND VERFAHREN ZUR ÜBERTRAGUNG EINER PROBE IN UND AUS EINER VAKUUMKAMMER EINES TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOPS
EP4345862
More trademarks (40)
VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER VIRTUELLEN QUELLENPOSITION EINER FLÜSSIGMETALLIONENQUELLE
EP4293699
LIVE-UNTERSTÜTZTES BILDERFASSUNGSVERFAHREN UND SYSTEM MIT LADUNGSTRÄGERTEILCHENMIKROSKOPIE
EP4533382
SYSTEM UND VERFAHREN ZUR AUTOMATISIERTEN VERARBEITUNG MEHRERER PROBEN IN EINEM BIB-SYSTEM
EP4287237
SYSTEME UND VERFAHREN ZUR VORAUSRICHTUNG VON PROBEN ZUR EFFIZIENTEREN VERARBEITUNG MEHRERER PROBEN MIT EINEM SYSTEM MIT BREITEM IONENSTRAHL (BIB)
EP4279899
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR HERSTELLUNG EINER PROBE EINES ODER MEHRERER MOLEKÜLE ZUR BILDGEBUNG MIT EINEM KRYOELEKTRONENMIKROSKOP
EP4586303
VERFAHREN ZUR AUTOMATISIERTEN DATENERFASSUNG FÜR EIN TRANSMISSIONSELEKTRONENMIKROSKOP
EP4345447
DATENERFASSUNG IN DER LADUNGSTRÄGERTEILCHENMIKROSKOPIE
EP4160518
VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINER PROBE MIT EINEM LADUNGSTRÄGERMIKROSKOP
EP4310485
AUTOMATISCHE SPITZEN- UND GRUNDLINIENERZEUGUNG FÜR CHROMATOGRAMMDATEN
EP4113115
VERBESSERTE SPÄRLICHE BILDREKONSTRUKTION AUS BENACHBARTEN TOMOGRAPHISCHEN KIPPBILDERN
EP4095521
VERFAHREN UND SYSTEM ZUR BESTIMMUNG EINER KRISTALLSTRUKTUR
EP4067886
VERFAHREN UND SYSTEM ZUR HOCHGESCHWINDIGKEITSSIGNALVERARBEITUNG
EP3979626
DYNAMISCHE SPEKTRALERFASSUNG FÜR MATERIALUNTERSUCHUNGEN
EP4024038
PARALLELE BILDSEGMENTIERUNG UND SPEKTRALE ERFASSUNG
EP4024037
SYSTEME UND VERFAHREN ZUR HYSTERESEKOMPENSATION
EP3822721
VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG EINER PROBE UNTER VERWENDUNG EINER TOMOGRAPHISCHEN BILDERZEUGUNGSVORRICHTUNG
EP3977937
MULTIMODALES KRYO-KOMPATIBLES GUID-GITTER
EP3786608
AUTOMATISIERTES UND ROBUSTES VERFAHREN ZUR AUFZEICHNUNG VON 3D-BILDDATEN IN NM-AUFLÖSUNG AUS SERIELLEN ULTRA-ABSCHNITTEN VON PROBEN AUS BIOWISSENSCHAFTLICHEN PROBEN MIT ELEKTRONENMIKROSKOPEN
EP3757883
ERFASSUNGSSTRATEGIE FÜR NEURONALE NETZWERKBASIERTE BILDWIEDERHERSTELLUNG
EP3736769
VERFAHREN, DAS DURCH EINE DATENVERARBEITUNGSVORRICHTUNG IMPLEMENTIERT IST, UND EINE GELADENE TEILCHENSTRAHLVORRICHTUNG ZUR UNTERSUCHUNG EINER PROBE UNTER VERWENDUNG EINES SOLCHEN VERFAHRENS
EP3901902
VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINES DETEKTORS FÜR GELADENE TEILCHEN
EP3767663
LADUNGSPARTIKELMIKROSKOP MIT MANIPULATORVORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINER PROBE MIT DIESEM LADUNGSPARTIKELMIKROSKOP
EP3613543
INERTGASPROBENTRANSFER FÜR STRAHLSYSTEME
EP4220681
SYSTEME UND VERFAHREN ZUR DURCHFÜHRUNG VON PROBENAUSHEBUNG FÜR HOCHREAKTIVE MATERIALIEN
EP4206644
SYSTEME UND VERFAHREN ZUR DURCHFÜHRUNG VON PROBENAUSHEBUNG FÜR HOCHREAKTIVE MATERIALIEN
EP4207243
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR HERSTELLUNG EINER PROBE EINES ODER MEHRERER MOLEKÜLE ZUR BILDGEBUNG MIT EINEM KRYOELEKTRONENMIKROSKOP
EP4206643
VERFAHREN UND SYSTEM ZUR ERZEUGUNG EINES BEUGUNGSBILDES
EP4119934
EINSPRINGENDES GASSYSTEM FÜR EIN LADUNGSTEILCHENMIKROSKOP
EP4113568
VERFAHREN UND SYSTEM ZUM BESTIMMEN DER PROBENZUSAMMENSETZUNG AUS SPEKTRALDATEN DURCH RETRAINING EINES NEURONALEN NETZES
EP4113109
VERFAHREN UND RASTERTRANSMISSIONSMIKROSKOP FÜR GELADENE TEILCHEN
EP4270443
VERFAHREN UND SYSTEM ZUR KOMPONENTENANALYSE VON SPEKTRALDATEN
EP4040143
DATENERFASSUNGS- UND -VERARBEITUNGSVERFAHREN ZUR DREIDIMENSIONALEN REKONSTRUKTION
EP4024039
VERWALTUNG DEFEKTER PIXEL IN DER LADUNGSTRÄGERTEILCHENMIKROSKOPIE
EP4198576
3D-KARTIERUNG VON PROBEN IN DER LADUNGSTRÄGERTEILCHENMIKROSKOPIE
EP4012745
TIEFENREKONSTRUKTION FÜR 3D-BILDER VON PROBEN IN EINEM GELADENEN TEILCHENSYSTEM
EP3979297
VERFAHREN ZUR HERSTELLUNG EINER KRYOGENEN PROBE MIT VERBESSERTEN KÜHLEIGENSCHAFTEN
EP4067860
VERFAHREN UND SYSTEME ZUR ERFASSUNG VON 3D-BEUGUNGSDATEN
EP3889591
ELEKTRONENBEUGUNGSHOLOGRAFIE
EP3889992
LADUNGSTEILCHENSTRAHLQUELLE
EP3886137
VERBESSERTE REKONSTRUKTIONSALGORITHMEN VON ELEKTRONENBASIERTEN HOLOGRAMMEN
EP3839640
Holder of 300 patents, 32 in force.
From Swissreg, the register of the Federal Institute of Intellectual Property: Swiss patents and European patents with effect in Switzerland. A patent is listed here when its holder’s name is this entity’s.