PHOTOMETRISCHE ANALYSE

Europäisches Patent · EP1725864 · Gelöscht

Registereintrag

Publikationsnummer
EP1725864
Anmeldenummer
EP05799710
Art
Europäisches Patent mit Wirkung für die Schweiz und Liechtenstein
Status
Gelöscht
Patentschrift
Erteilt
Angemeldet
23.09.2005
Veröffentlicht
29.11.2006
Erteilt
09.01.2013
Gelöscht
30.09.2013
Grund
Jahresgebühr nicht bezahlt
IPC-Klassen
G01N 1/10 (2006.01)
G01N 1/00 (2006.01)
G01N 21/78 (2006.01)
G01N 21/03 (2006.01)
G01N 21/25 (2006.01)
Priorität
US 949315 27.09.2004
US 117536 29.04.2005
US 157944 22.06.2005
PCT-Anmeldung
PCT/US2005/033985 23.09.2005
PCT-Veröffentlichung
WO2006/036738 06.04.2006
Anmeldesprache
Englisch
Quelle
Swissreg

Verlauf

Was das Eidgenössische Institut für Geistiges Eigentum zu diesem Schutztitel veröffentlicht hat, das Neueste zuerst.

  1. 24.04.2014

    Gelöscht, Gebühr nicht bezahlt

    Veröffentlicht in Swissreg am 24.04.2014

  2. 09.01.2013

    Erteilt

    Veröffentlicht in Swissreg am 09.01.2013

Beteiligte

Inhaberin

Industrial Test Systems, Inc.

1875 Langston Street, Rock Hill, SC 29730, US

Erfinderin/Erfinder

JAUNAKAIS, Ivars

Charlotte, NC 28226, US

ANAND, Sanjay, Mohan

Charlotte, NC 28277, US

Das Register nennt jede Partei mit Namen und Adresse. Eine Inhaberin oder Vertretung wird mit einer Organisation verknüpft, wenn genau eine Rechtseinheit des Handelsregisters ihren Namen trägt; die Strasse einer nicht so erkannten Partei wird hier nicht gezeigt.