ZYGO CORPORATION
Middlefield, CT 06455-0488
Patents
INTERFEROMETRISCHER LINSENAUSRICHTER UND VERFAHREN
EP4377662
ABBILDUNGSVORRICHTUNG MIT VARIABLEM ZOOM
EP4201055
MESSUNG DER TOPOGRAFIE VON ASPHÄRISCHEN UND ANDEREN NICHT-EBENEN FLÄCHEN
EP3092459
VERFAHREN ZUM ABSCHWÄCHEN VON DEFEKTEN AUF EINER OPTISCHEN OBERFLÄCHE UND SPIEGEL, DER DAMIT HERGESTELLT IST
EP4052071
VERFAHREN ZUR FIGURIERUNGSSTEUERUNG VON OPTISCHEN OBERFLÄCHEN
EP3931160
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTIMIERUNG DER OPTISCHEN LEISTUNG VON INTERFEROMETERN
EP3542126
PRÄZISIONSPOSITIONIERUNGSSYSTEM MIT VERWENDUNG EINES LASERS MIT ABSTIMMBARER WELLENLÄNGE
EP3469301
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTIMIERUNG DER OPTISCHEN LEISTUNG VON INTERFEROMETERN
EP3397949
INTERFEROMETRISCHE ENCODER-SYSTEME
EP3207339
OPTISCHE AUSWERTUNG VON LINSEN UND LINSENFORMEN
EP3180597
More trademarks (23)
INTERFEROMETRISCHE CODIERER MIT VERWENDUNG VON SPEKTRALANALYSE
EP3169969
POSITIONSÜBERWACHUNGSSYSTEM MIT VERRINGERTEM RAUSCHEN
EP2904347
INTERFEROMETRISCHES KODIERSYSTEM MIT DOPPELTEM DURCHGANG
EP2776792
KOMPAKTER KODIERERKOPF FÜR INTERFEROMETRISCHES KODIERSYSTEM
EP2776790
WÄRMESTABILE OPTISCHE SENSORHALTERUNG
EP2777066
INTERFEROMETRISCHE ENCODER-SYSTEME
EP2553401
LITHOGRAFIEVERFAHREN UND LITHOGRAFIESYSTEM
EP3006902
GLEICHPFAD-INTERFEROMETER
EP2454554
KORREKTUR VON ABTASTFEHLERN FÜR NIEDERKOHÄRENZ-ABTASTINTERFEROMETRIE
EP2238430
PHASENVERSCHIEBUNGSINTERFEROMETRIE BEI VIBRATION
EP2359089
ANALYSE DER OBERFLÄCHENSTRUKTUR UNTER VERWENDUNG VON RASTERINTERFEROMETRIE
EP2232195
VERFAHREN UND SYSTEM ZUM AUSMESSEN VON DÜNNSCHICHTSTRUKTUREN MITTELS NIEDRIGKOHÄRENZINTERFEROMETRIE
EP1883781
INTERFEROMETER ZUR BESTIMMUNG VON EIGENSCHAFTEN EINER OBJEKTOBERFLÄCHE
EP1853874
Interferometer zur Bestimmung von Eigenschaften einer Objektoberfläche
EP2108919
OBERFLÄCHEN-TRIANGULATION UND -PROFILIERUNG
EP1664931
INTERFEROMETRISCHE ANALYSE VON OBERFLÄCHEN
EP1664932
Interferometrische Analyse von Oberflächen
EP2275868
PROFILAUFNAHME VON KOMPLEXEN OBERFLÄCHENSTRUKTUREN UNTER VERWENDUNG VON ABTASTINTERFEROMETRIE
EP1604168
VERFAHREN ZUR MESSUNG DES PROFILS KOMPLEXER OBERFLÄCHENSTRUKTUREN MIT HILFE VON SCANNINGINTERFEROMETRY
EP1604169
MESSUNG KOMPLEXER OBERFLÄCHENFORMEN UNTER VERWENDUNG EINER SPHÄRISCHEN WELLENFRONT
EP1436570
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR HÖHENABTASTENDEN INTERFEROMETRIE MIT PHASENDIFFERENZ-ANALYSE
EP1332332
PHASENVERSCHIEBUNGSINTERFEROMETRIE UNTER ANWENDUNG VON FREQUENZTRANSFORMATION
EP1307702
SYSTEM UND VERFAHREN ZUR QUANTIFIZIERUNG VON NICHTLINEARITÄTEN IN INTERFEROMETRISCHEN SYSTEMEN
EP1303736
Holder of 33 patents, 3 in force.
From Swissreg, the register of the Federal Institute of Intellectual Property: Swiss patents and European patents with effect in Switzerland. A patent is listed here when its holder’s name is this entity’s.