KLA - Tencor Corporation

Milpitas, California

Trademarks

KLA Tencor

No. 447960 · Class 9

protected until Jul 17, 2027
CIRCL-AP

International registration 1274760 · Class 9

CIRCL-FOCUS

International registration 1278881 · Class 9

CIRCL-EDGE

International registration 1279196 · Class 9

Holder of 4 trademarks, 1 in force.

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Patents

GRAUE SCATTEROMETRISCHE ÜBERLAGERUNGSZIELE FÜR EINZELZELLEN UND DEREN MESSUNG UNTER VERWENDUNG UNTERSCHIEDLICHER BELEUCHTUNGSPARAMETER

EP3870935

filed Aug 5, 2019
CHROMATISCHER KONFOKALER FLÄCHENSENSOR

EP3807591

filed Jul 23, 2019
HÖHENSENSOR MIT MEHREREN ARBEITSABSTÄNDEN UNTER VERWENDUNG MEHRERER WELLENLÄNGEN

EP3807589

filed Jul 18, 2019
LOKALISIERTE TELEZENTRIZITÄT UND FOKUSOPTIMIERUNG FÜR ÜBERLAGERUNGSMETROLOGIE

EP3762900

filed Apr 5, 2019
TRAINIEREN EINES NEURONALEN NETZES ZUR FEHLERDETEKTION IN BILDERN MIT NIEDRIGER AUFLÖSUNG

EP3762961

filed Mar 28, 2019
FEHLERERKENNUNG AUF TRANSPARENTEN ODER TRANSLUZENTEN WAFERN

EP3646372

filed Aug 23, 2018
ERKENNUNG VON REPEATERDEFEKTEN

EP3635772

filed Jul 8, 2018
METROLOGIE MIT DIFFRAKTIONSBASIERTEM FOKUS

EP3507653

filed Jun 2, 2017
ZWEISÄULENPARALLELER CCD-SENSOR UND INSPEKTIONSSYSTEME MIT SENSOR

EP4534987

filed Apr 5, 2017
AUTOMATISCHE SCHRÄGLAGENKORREKTUR MITHILFE VON DESIGNDATEIEN ODER INSPEKTIONSBILDERN

EP3411900

filed Jan 31, 2017
More trademarks (40)
WAFER-DEFEKTINSPEKTIONS- UND PRÜFSYSTEME

EP3411694

filed Jan 30, 2017
SYSTEM UND VERFAHREN FÜR HYPERSPEKTRALE BILDGEBUNGSMETROLOGIE

EP3411681

filed Jan 27, 2017
HYBRIDE INSPEKTOREN

EP3397952

filed Dec 30, 2016
AUTOMATISIERTE BILDBASIERTE PROZESSÜBERWACHUNG UND STEUERUNG

EP3289607

filed Apr 27, 2016
UMDREHVORRICHTUNG, -SYSTEM UND -VERFAHREN ZUR VERARBEITUNG VON ARTIKELN

EP3250487

filed Jan 14, 2016
VERFAHREN FÜR FEHLERERKENNUNG IN WERKSTÜCKEN

EP3164723

filed Dec 4, 2015
GERÄT UND VERFAHREN ZUR DEFEKTERKENNUNG IN WERKSTÜCKEN

EP3926330

filed Dec 4, 2015
VORRICHTUNG, VERFAHREN UND COMPUTERPROGRAMMPRODUKT ZUR INSPEKTION VON ZUMINDEST DER SEITENFLÄCHEN VON HALBLEITERBAUELEMENTEN

EP3281219

filed Jul 27, 2015
AUTOMATISIERTE IN-LINE-INSPEKTION UND METROLOGIE MIT SHADOWGRAM-BILDERN

EP3111468

filed Feb 25, 2015
MESSUNG MEHRERER STRUKTURIERUNGPARAMETER

EP3709341

filed Dec 23, 2014
WASSERSTOFF-PASSIVIERUNG NICHTLINEARER OPTISCHER KRISTALLE

EP3957778

filed Oct 5, 2012
METROLOGIE UND KONTROLLE VON ÜBERLAGERUNGS- UND RANDPLATZIERUNGSFEHLERN

EP3762780

Deleted
WILLKÜRLICHER WELLENFRONTKOMPENSATOR FÜR OPTISCHES BILDGEBUNGSSYSTEM MIT TIEFEM UV (DUV)

EP3762781

Deleted
VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ZWEIDIMENSIONALEN NANOINDENTATION

EP3724631

Deleted
RÖNTGENMETROLOGIESYSTEM MIT BREITBANDIGER LASERERZEUGTER PLASMABELEUCHTUNGSVORRICHTUNG

EP3738181

Deleted
VERFAHREN ZUM MESSEN VON POSITIONEN VON STRUKTUREN AUF EINEM SUBSTRAT

EP3721471

Deleted
SYSTEME UND VERFAHREN ZUR VORRICHTUNGSKORRELIERTEN ÜBERLAGERUNGSMETROLOGIE

EP3721294

Deleted
SCHÄTZUNG VON ASYMMETRISCHEN ABERRATIONEN

EP3853665

Deleted
VORRICHTUNG ZUR HANDHABUNG VON SUBSTRATEN FÜR EXTREM GEKRÜMMTE WAFER

EP3682468

Deleted
RUTHENIUM-EINGEKAPSELTER PHOTOKATHODEN-ELEKTRONENEMITTER

EP3695431

Deleted
INSPEKTIONSGEFÜHRTE AUSWAHL KRITISCHER STELLEN FÜR DIE MESSUNG KRITISCHER ABMESSUNGEN

EP3635774

Deleted
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR POLARISIERTEN RETIKELINSPEKTION

EP3635375

Deleted
KLEINWINKELRÖNTGENSTREUUNGSMETROLOGIESYSTEM FÜR ÜBERTRAGUNG

EP3593124

Deleted
VERFAHREN UND SYSTEME ZUR MESSUNG VON DICKSCHICHTEN UND STRUKTUREN MIT HOHEM ASPEKTVERHÄLTNIS

EP3563408

Deleted
AKTIVIERUNG VON WAFERPARTIKELDEFEKTEN ZUR SPEKTROSKOPISCHEN ANALYSE VON ZUSAMMENSETZUNGEN

EP3549160

Deleted
ÜBERLAGERUNGSSTEUERUNG MIT VORHERSAGE VON OFFSET UNGLEICH NULL

EP3548971

Deleted
EXTRAKTORELEKTRODE FÜR ELEKTRONENQUELLE

EP3549151

Deleted
FEHLERKORREKTURMUSTER FÜR TRANSPARENTE FOLIE IN WAFERGEOMETRIESYSTEMEN

EP3549159

Deleted
RÖNTGEN-ZOOMLINSE FÜR KLEINWINKELIGE RÖNTGENSCATTEROMETRIE

EP3548878

Deleted
ERZEUGUNG EINES METROLOGIEREZEPTS UNTER VERWENDUNG VORHERGESAGTER METROLOGIEBILDER

EP3549158

Deleted
GEBONDETE WAFERMETROLOGIE

EP3507826

Deleted
VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM EINSPANNEN GEKRÜMMTER WAFER

EP3507827

Deleted
VERFAHREN ZU ERKENNUNG VON UNSCHÄRFE

EP3516683

Deleted
VERBESSERTES VERFAHREN ZUR COMPUTERMODELLIERUNG UND SIMULATION VON NEGATIVTONENTWICKELBAREN PHOTORESISTS

EP3465349

Deleted
RETIKEL OPTIMIERUNGSALGORITHMEN UND OPTIMALES ZIELDESIGN

EP3639166

Deleted
SYSTEME UND VERFAHREN MIT EINEM NEURONALEN NETZWERK UND EINEM PHYSISCHEN FORWARD-MODELL FÜR HALBLEITERANWENDUNGEN

EP3465552

Deleted
ERZEUGUNG SIMULIERTER BILDER AUS EINGEGEBENEN BILDERN FÜR HALBLEITERANWENDUNGEN

EP3465174

Deleted
SYSTEM ZUR HEMMUNG DER VUV-STRAHLUNGSEMISSION EINER LASERGESTÜTZTEN PLASMAQUELLE

EP3466220

Deleted
PERMANENTMAGNETTEILCHENSTRAHLVORRICHTUNG UND VERFAHREN MIT EINEM NICHTMAGNETMETALLTEIL ZUR ABSTIMMBARKEIT

EP3443822

Deleted
CCD-SENSOR MIT ZWEI PARALLELEN SÄULEN UND PRÜFSYSTEME MIT EINEM SENSOR

EP3440832

Deleted

Holder of 194 patents, 21 in force.

From Swissreg, the register of the Federal Institute of Intellectual Property: Swiss patents and European patents with effect in Switzerland. A patent is listed here when its holder’s name is this entity’s.