KLA - Tencor Corporation

Milpitas, California

Marques

KLA Tencor

No 447960 · Classe 9

protégée jusqu’au 17 juil. 2027
CIRCL-AP

Enregistrement international 1274760 · Classe 9

CIRCL-FOCUS

Enregistrement international 1278881 · Classe 9

CIRCL-EDGE

Enregistrement international 1279196 · Classe 9

Titulaire de 4 marques, dont 1 en vigueur.

Selon Swissreg, le registre de l’Institut Fédéral de la Propriété Intellectuelle. Le registre ne désigne le titulaire que par son nom et son adresse ; une marque figure ici lorsque le nom de son titulaire est celui de cette entité.

Brevets

GRAUE SCATTEROMETRISCHE ÜBERLAGERUNGSZIELE FÜR EINZELZELLEN UND DEREN MESSUNG UNTER VERWENDUNG UNTERSCHIEDLICHER BELEUCHTUNGSPARAMETER

EP3870935

déposée le 5 août 2019
CHROMATISCHER KONFOKALER FLÄCHENSENSOR

EP3807591

déposée le 23 juil. 2019
HÖHENSENSOR MIT MEHREREN ARBEITSABSTÄNDEN UNTER VERWENDUNG MEHRERER WELLENLÄNGEN

EP3807589

déposée le 18 juil. 2019
LOKALISIERTE TELEZENTRIZITÄT UND FOKUSOPTIMIERUNG FÜR ÜBERLAGERUNGSMETROLOGIE

EP3762900

déposée le 5 avr. 2019
TRAINIEREN EINES NEURONALEN NETZES ZUR FEHLERDETEKTION IN BILDERN MIT NIEDRIGER AUFLÖSUNG

EP3762961

déposée le 28 mars 2019
FEHLERERKENNUNG AUF TRANSPARENTEN ODER TRANSLUZENTEN WAFERN

EP3646372

déposée le 23 août 2018
ERKENNUNG VON REPEATERDEFEKTEN

EP3635772

déposée le 8 juil. 2018
METROLOGIE MIT DIFFRAKTIONSBASIERTEM FOKUS

EP3507653

déposée le 2 juin 2017
ZWEISÄULENPARALLELER CCD-SENSOR UND INSPEKTIONSSYSTEME MIT SENSOR

EP4534987

déposée le 5 avr. 2017
AUTOMATISCHE SCHRÄGLAGENKORREKTUR MITHILFE VON DESIGNDATEIEN ODER INSPEKTIONSBILDERN

EP3411900

déposée le 31 janv. 2017
Autres marques (40)
WAFER-DEFEKTINSPEKTIONS- UND PRÜFSYSTEME

EP3411694

déposée le 30 janv. 2017
SYSTEM UND VERFAHREN FÜR HYPERSPEKTRALE BILDGEBUNGSMETROLOGIE

EP3411681

déposée le 27 janv. 2017
HYBRIDE INSPEKTOREN

EP3397952

déposée le 30 déc. 2016
AUTOMATISIERTE BILDBASIERTE PROZESSÜBERWACHUNG UND STEUERUNG

EP3289607

déposée le 27 avr. 2016
UMDREHVORRICHTUNG, -SYSTEM UND -VERFAHREN ZUR VERARBEITUNG VON ARTIKELN

EP3250487

déposée le 14 janv. 2016
VERFAHREN FÜR FEHLERERKENNUNG IN WERKSTÜCKEN

EP3164723

déposée le 4 déc. 2015
GERÄT UND VERFAHREN ZUR DEFEKTERKENNUNG IN WERKSTÜCKEN

EP3926330

déposée le 4 déc. 2015
VORRICHTUNG, VERFAHREN UND COMPUTERPROGRAMMPRODUKT ZUR INSPEKTION VON ZUMINDEST DER SEITENFLÄCHEN VON HALBLEITERBAUELEMENTEN

EP3281219

déposée le 27 juil. 2015
AUTOMATISIERTE IN-LINE-INSPEKTION UND METROLOGIE MIT SHADOWGRAM-BILDERN

EP3111468

déposée le 25 févr. 2015
MESSUNG MEHRERER STRUKTURIERUNGPARAMETER

EP3709341

déposée le 23 déc. 2014
WASSERSTOFF-PASSIVIERUNG NICHTLINEARER OPTISCHER KRISTALLE

EP3957778

déposée le 5 oct. 2012
METROLOGIE UND KONTROLLE VON ÜBERLAGERUNGS- UND RANDPLATZIERUNGSFEHLERN

EP3762780

Radié
WILLKÜRLICHER WELLENFRONTKOMPENSATOR FÜR OPTISCHES BILDGEBUNGSSYSTEM MIT TIEFEM UV (DUV)

EP3762781

Radié
VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ZWEIDIMENSIONALEN NANOINDENTATION

EP3724631

Radié
RÖNTGENMETROLOGIESYSTEM MIT BREITBANDIGER LASERERZEUGTER PLASMABELEUCHTUNGSVORRICHTUNG

EP3738181

Radié
VERFAHREN ZUM MESSEN VON POSITIONEN VON STRUKTUREN AUF EINEM SUBSTRAT

EP3721471

Radié
SYSTEME UND VERFAHREN ZUR VORRICHTUNGSKORRELIERTEN ÜBERLAGERUNGSMETROLOGIE

EP3721294

Radié
SCHÄTZUNG VON ASYMMETRISCHEN ABERRATIONEN

EP3853665

Radié
VORRICHTUNG ZUR HANDHABUNG VON SUBSTRATEN FÜR EXTREM GEKRÜMMTE WAFER

EP3682468

Radié
RUTHENIUM-EINGEKAPSELTER PHOTOKATHODEN-ELEKTRONENEMITTER

EP3695431

Radié
INSPEKTIONSGEFÜHRTE AUSWAHL KRITISCHER STELLEN FÜR DIE MESSUNG KRITISCHER ABMESSUNGEN

EP3635774

Radié
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR POLARISIERTEN RETIKELINSPEKTION

EP3635375

Radié
KLEINWINKELRÖNTGENSTREUUNGSMETROLOGIESYSTEM FÜR ÜBERTRAGUNG

EP3593124

Radié
VERFAHREN UND SYSTEME ZUR MESSUNG VON DICKSCHICHTEN UND STRUKTUREN MIT HOHEM ASPEKTVERHÄLTNIS

EP3563408

Radié
AKTIVIERUNG VON WAFERPARTIKELDEFEKTEN ZUR SPEKTROSKOPISCHEN ANALYSE VON ZUSAMMENSETZUNGEN

EP3549160

Radié
ÜBERLAGERUNGSSTEUERUNG MIT VORHERSAGE VON OFFSET UNGLEICH NULL

EP3548971

Radié
EXTRAKTORELEKTRODE FÜR ELEKTRONENQUELLE

EP3549151

Radié
FEHLERKORREKTURMUSTER FÜR TRANSPARENTE FOLIE IN WAFERGEOMETRIESYSTEMEN

EP3549159

Radié
RÖNTGEN-ZOOMLINSE FÜR KLEINWINKELIGE RÖNTGENSCATTEROMETRIE

EP3548878

Radié
ERZEUGUNG EINES METROLOGIEREZEPTS UNTER VERWENDUNG VORHERGESAGTER METROLOGIEBILDER

EP3549158

Radié
GEBONDETE WAFERMETROLOGIE

EP3507826

Radié
VORRICHTUNG UND VERFAHREN ZUM EINSPANNEN GEKRÜMMTER WAFER

EP3507827

Radié
VERFAHREN ZU ERKENNUNG VON UNSCHÄRFE

EP3516683

Radié
VERBESSERTES VERFAHREN ZUR COMPUTERMODELLIERUNG UND SIMULATION VON NEGATIVTONENTWICKELBAREN PHOTORESISTS

EP3465349

Radié
RETIKEL OPTIMIERUNGSALGORITHMEN UND OPTIMALES ZIELDESIGN

EP3639166

Radié
SYSTEME UND VERFAHREN MIT EINEM NEURONALEN NETZWERK UND EINEM PHYSISCHEN FORWARD-MODELL FÜR HALBLEITERANWENDUNGEN

EP3465552

Radié
ERZEUGUNG SIMULIERTER BILDER AUS EINGEGEBENEN BILDERN FÜR HALBLEITERANWENDUNGEN

EP3465174

Radié
SYSTEM ZUR HEMMUNG DER VUV-STRAHLUNGSEMISSION EINER LASERGESTÜTZTEN PLASMAQUELLE

EP3466220

Radié
PERMANENTMAGNETTEILCHENSTRAHLVORRICHTUNG UND VERFAHREN MIT EINEM NICHTMAGNETMETALLTEIL ZUR ABSTIMMBARKEIT

EP3443822

Radié
CCD-SENSOR MIT ZWEI PARALLELEN SÄULEN UND PRÜFSYSTEME MIT EINEM SENSOR

EP3440832

Radié

Titulaire de 194 brevets, 21 en vigueur.

Selon Swissreg, le registre de l’Institut Fédéral de la Propriété Intellectuelle : brevets suisses et brevets européens ayant effet en Suisse. Un brevet figure ici lorsque le nom de son titulaire est celui de cette entité.